標(biāo)題：測量顯微硬度的工具儀器-測量分析圖像顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2016-5-3 2:47:13
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正文:
顯微壓入法的優(yōu)點(diǎn)之一是有可能用來研究靠近表面的薄層強(qiáng)度，
鑒于對(duì)表面在固體塑性變形過程中引起的作用日益重視，這種研究看
來是有前途的．
但是，在小于10微米表面層內(nèi)的大量硬度測量結(jié)果是矛盾的，甚
至于對(duì)于同一個(gè)或同一種晶體也是這樣(例如，NaCl晶體的解理面)．
測量結(jié)果表明，當(dāng)接近表面時(shí)，硬度既有與壓入深度無關(guān)的．電有隨
深度而增加或減少的．
為此，我們制定的研究任務(wù)是：用顯微壓入法詳細(xì)研究不同物質(zhì)
單晶在靠近表面薄層的強(qiáng)度性能，以確定這些性能變化的規(guī)律性I研究
與壓入層深度有關(guān)聯(lián)的位錯(cuò)遷移率，并估計(jì)單晶體表面硬度的極限值
考慮到小載荷下的硬度測量誤差，得到如下的結(jié)論，即硬度的高
低受各種誤差的影響，但除了加載和測量壓痕的誤差外，其他所有的
都帶來和壓痕尺寸成比例的絕對(duì)誤差，因而，硬度值失真對(duì)其與載荷
關(guān)系的性質(zhì)沒有影響．所以，在測定硬度與載荷的關(guān)系(或與壓痕尺寸
的關(guān)系)時(shí)，不同研究者所得結(jié)果的分歧，大概是由于測定所施加載荷
大小時(shí)的系統(tǒng)誤差．
在這些情況下，重要的是要有一個(gè)測量顯微硬度的裝置，以保證
所施加載荷的大小不受系統(tǒng)誤差的影響．我們已經(jīng)研制出適用予載荷
范圍為0．3—100 g的這種裝置．它的特點(diǎn)是不需要調(diào)節(jié)載荷面在全部
工作載荷范圍內(nèi)壓頭質(zhì)量與所施加載荷的比值小于1，并在所施加載荷
和壓頭之間設(shè)置有一個(gè)彈性元件。上述特點(diǎn)的結(jié)合使此裝置適合于小
載荷下的精密硬度測量．
在此新裝置上對(duì)室溫下硬度與載荷關(guān)系的系統(tǒng)研究表明：在所研
究的全部離子單晶體和余屬單晶體樣品中，可以觀察到硬度隨著載荷
減小而有相當(dāng)大的增加．
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/8350.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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