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標(biāo)題:金相顯微鏡斷面測量合金鍍層和多層鍍層計量顯微鏡

信息分類:站內(nèi)新聞   作者:yiyi發(fā)布   時間:2016-5-8 1:16:26 將本頁加入收藏

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正文:

金相顯微鏡斷面測量合金鍍層和多層鍍層計量顯微鏡


測量金屬覆層厚度的陽極溶解庫侖法簡稱庫侖法,它主要是
利用電解方法對被測覆層進(jìn)行陽極溶解,故也稱電解法。覆層厚度
是根據(jù)陽極溶解所消耗的電量計算的,因而這種測量方法又稱電
量法。庫侖法測厚不僅適合于測量金屬基體上的單層金屬鍍層,而
且適合于測量合金鍍層和多層鍍層。利用庫侖法在測量覆層厚度
的同時還對電位的變化進(jìn)行測量,從而可以測量多層鎳鍍層的每
一分層厚度;如果能達(dá)到準(zhǔn)確定位,還可以進(jìn)行腐蝕厚度的測
量。

    庫侖測厚儀操作簡單、測量速度快、操作人員的人為影響
小,測量鍍層厚度的范圍可以從0.5微米或更薄至300微米,當(dāng)測量
鍍層厚度為l~30微米時,測量誤差為±5%。這種方法測量的范
圍較寬,測得的結(jié)果可靠,測量的準(zhǔn)確度較高;雖然對被測覆層
有損壞的缺點,然而其應(yīng)用日益普遍。

    過去在覆層厚度測量中,大都采用金相顯微鏡斷面測厚作為
仲裁測量,但利用這種方法測量大約在8μm以下的薄鍍層,即使
試樣的制備最佳,一般測量誤差仍較大,而不及庫侖法的測量準(zhǔn)
確,因而測量大約8微米以內(nèi)的薄鍍層可采用庫侖法作仲裁測量











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