點(diǎn)擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報(bào)價(jià)--丨--

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正文:
礦物顆粒組成的測(cè)定-
微觀分析計(jì)量圖像
顯微鏡
顆粒組成的測(cè)定也會(huì)遇到類似上述的單值問題。顯微鏡測(cè)定
顆粒切片暴露出來的不同相的表面積,一般不會(huì)得到同于X一射線
衍射分析結(jié)果的礦物組成。
盡管有這些問題存在,但其實(shí)對(duì)所處理的顆粒的特性知道得
越多,則對(duì)顆粒的行為理解得越全面,最終對(duì)體系的分析和過程
的設(shè)計(jì)也就越完善。針對(duì)一定的用途,應(yīng)決定必須測(cè)定顆粒的哪
些特性,并選擇每種特性的測(cè)定方法。實(shí)際上,這些測(cè)定方法將
確定粒度、形狀等在所研究的體系中的意義如何。測(cè)定的顆粒特
性本身,能與體系的動(dòng)力學(xué)反應(yīng)聯(lián)系起來。這種方法能導(dǎo)出一套
不自相矛盾的顆粒特性參數(shù),可用于描述體系的行為。
性質(zhì)分布的表示方法
一旦判定顆粒集合體中的重要性質(zhì),并選定相應(yīng)的表征方
法,那么重要的是要能夠定量蛻明集合體內(nèi)具有這一組性質(zhì)的顆
粒的“數(shù)量”。假如已知具有一定粒度和組成的顆粒以某種方式進(jìn)
行反應(yīng),那么就必須知道這種粒度和組成的顆粒在整個(gè)顆粒集合
多顆粒體系的動(dòng)力學(xué)行為提供構(gòu)架。這個(gè)構(gòu)架包括兩個(gè)方面:
(1)描述分散相中所選顆粒性質(zhì)分布變化的總體平衡; (2)描述
對(duì)分散相行為有影響的連續(xù)相中物質(zhì)濃度變化的質(zhì)量平衡。在這種
描述方式中,個(gè)別顆粒的動(dòng)力學(xué)為預(yù)示整個(gè)集合體行為提供了結(jié)構(gòu)
單元。
這里描述的總體平衡和質(zhì)量平衡的特定形式,實(shí)質(zhì)上是有
一定限制性的(忽略了統(tǒng)計(jì)學(xué)上的起伏現(xiàn)象),而且是宏觀的(只考
慮提取設(shè)備空間平均容量)。但這些描述方法對(duì)提取冶金中許多工
程問題的應(yīng)用還是恰當(dāng)?shù)摹U(kuò)大用于處理有關(guān)隨機(jī)表象和微觀(空
問分布)形式的問題也是有效的。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科
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