標(biāo)題：檢查工件的尺寸、平面度、平行度-光學(xué)測(cè)量?jī)x器
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2016-6-16 12:19:39
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正文:
檢查工件的尺寸、平面度、平行度-光學(xué)測(cè)量?jī)x器
光波測(cè)量
·使用光學(xué)平晶檢查工件的尺寸、平面度、平行度。
·描述激光干涉儀的操作。
·掌握關(guān)于激光測(cè)量的應(yīng)用。
兩種最為精確的測(cè)量方法是分別使用光學(xué)平晶和激光測(cè)量。盡管
基于不同原理，但它們都是使用單色光光源來(lái)保證測(cè)量的精確性。光
學(xué)平晶的測(cè)量
最為精確和可靠的測(cè)量方法之一就是使用光波測(cè)量。光學(xué)平晶使
用單色光來(lái)檢測(cè)工件的平面度、平行度及尺寸。光學(xué)平晶就是一塊潔
凈的石英圓盤(pán)，被研磨到不平度小于百萬(wàn)分之一英寸。通常使用氦光
光源，氦光可以提供光波長(zhǎng)度為23．1323μm(O．587 56μm)的黃綠
光。
光學(xué)平晶，是一塊非常平的透明圓盤(pán)，通常放在工件的表面進(jìn)行
檢測(cè)。光學(xué)平晶的功能表面是靠近工件的表面。它是透明的，可以反
射光，因此所有光波照到它的表面上，然后被分成兩部分，一部分光
波被平晶的下表面反射，另一部分穿過(guò)平晶表面由工件的上表面反射
。無(wú)論這兩部分反射光什么時(shí)候相互穿過(guò)或者干涉，它們都是可見(jiàn)的
并產(chǎn)生暗的干涉帶或干涉條紋，這種情況只發(fā)生在當(dāng)工件的上表面和
平鏡的下表面的距離只有半波長(zhǎng)的時(shí)候。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/8525.html
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