標題：元件表面產生的熱分配的技術-紅外線溫度測量技術
信息分類:站內新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2016-6-24 15:05:53
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正文:
元件表面產生的熱分配的技術-紅外線溫度測量技術
紅外線溫度測量
紅外線狀態(tài)監(jiān)測是能夠揭露缺陷元件表面產生的熱分配的技術。由
于元件產生的熱量和熱傳遞特性的改變表現出的缺陷的變化使表面的熱
特征發(fā)生改變。因此紅外線溫度測量能夠通過遙控收集熱信息監(jiān)測整個
功率系統(tǒng)中的電子元件的狀態(tài)。
在正常的操作狀態(tài)下，每個元件的特性可通過某一可接受的電阻值
表示。當元件受熱時將表現出電阻值的偏移。元件的過熱可以由任何失
效的機理所引起，，如喪失接觸力、應力松弛，蠕變，腐蝕等。元件的
持續(xù)惡化造成溫度的增加以至于達到材料的熔點，從而導致完全失效。
紅外線的溫度測量目前廣泛地被電力公司和工業(yè)部門應用。這不僅
僅是因為這種非接觸、非破壞性的方法得到的效益，也是其表現出的精
確數據的獲得、簡單的操作和高效的性能的結果。
然而，應該指出的是，盡管紅外線系統(tǒng)的廣泛使用受只能測量曝露
表面的溫度這個事實所限制，但是它們在測量緩慢發(fā)展的缺陷的時候仍
然是非常有效的。這使使用者能夠跟蹤失效的過程和了解失效的影響。
因為這些理由，IR溫度圖像測量已經成為電氣設施和廣泛的工業(yè)領域的
預測和預防維護程序的基本部分。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科