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標題:微懸臂非接觸模式來檢測表面粗糙度儀器

信息分類:站內(nèi)新聞   作者:yiyi發(fā)布   時間:2016-6-27 13:09:07 將本頁加入收藏

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正文:

微懸臂非接觸模式來檢測表面粗糙度儀

  在接觸模式中,微懸臂變形非常敏感,并與直流反饋放大器所設置
的變形值相對比。如果測得變形值與設定值不同,反饋放大器給壓電管
施加電壓,使樣品相對于針尖升高或降低,以恢復到設定的變形值。反
饋放大器施加到壓電管上的電壓用來檢測樣品表面起伏物的高度,它也
是樣品水平方向位置的函數(shù)。少數(shù)設備在超真空中操作,大多數(shù)設備在
大氣壓下或液體中操作。接觸模式的問題是探針施加在樣品上過高的接
觸力。影響程度可通過縮小探針對樣品的接觸力來減小,但實際上在接
觸力的幅值上存在限制,使用者在一般環(huán)境下操作時,在一定情況下可
以對接觸力加以控制。在一般環(huán)境條件下,樣品表面覆蓋有吸附性氣體
,主要有水蒸氣和氮氣,有10~30單層厚。當探針接觸這層污染表面,
會形成彎月形液面,微懸臂由表面張力拉向樣品表面。力的大小取決于
探針針尖的幾何結(jié)構(gòu),但一般在100nN的量級?赏ㄟ^對探針和部分樣
品進行操控,或?qū)⒄麄樣品全部浸入液體中,使彎月形力和其他吸引力
相互抵消。將微懸臂和樣品浸入液體中操作AFM有很多好處,這些優(yōu)點
包括排除了毛細力、減少了范德瓦爾斯力和技術(shù)或生物學層面上研究固
液界面上重要過程的能力。但是液體模式下操作AFM也存在明顯不足之
處,有泄露的危害以及其他基本性的問題,如對水和敏感生物樣本的損
害。

  此外,包括半導體和絕緣體一大類樣品,能夠捕獲靜電荷(部分電
荷在液體中被散逸或屏蔽)。這些電荷會在探針與樣品間產(chǎn)生附加的吸
引力。所有力復合在一起,在垂直方向形成一個合力,這個合力可通過
改變探針尖與樣品表面距離可控。當探針在表面掃描時,這個垂直力會
引起較大的摩擦力產(chǎn)生。事實上,產(chǎn)生的摩擦力比垂直方向上的力更具
破壞性,會損壞樣品,使微懸臂探針鈍化,導致實驗數(shù)據(jù)不可靠。而且
,很多樣品,如半導體襯底等實際上不能浸入到液體中。在這種情況下
,可以用非接觸模式來檢測。











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