標題：立式光學計用量塊調零時是平面與平面接觸
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2016-7-6 22:23:07
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正文:
立式光學計用量塊調零時是平面與平面接觸
測力的影響
立式光學計用量塊調零時是平面與平面接觸。測量軸徑時是圓柱
面與平面接觸。接觸情況有差異，固測力引起的變形不同而會帶來
測量誤差。但由予立式光學計測力為2N。根據(jù)公式計算，帶來的誤
差很小，可以忽略。 從上面的分析可看出，其主要誤差為量塊的
誤差和溫度引起的誤差。因此，選用高等級的量塊和控制測量溫度
，就可提高測量準確度。
應該指出，在上面的誤差分析中，沒有考慮因工件重量使工作
臺變形而帶來的測量誤差。根據(jù)有關資料，當工件重量為3kg時，
工作臺的變形可達0．5μm。因此，對于較重的工件，一般不在立
式光學計上測量，如改在臥式光學計或測長儀上測量。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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