標(biāo)題：鍛件疏松、偏析、晶粒分布特征實(shí)驗(yàn)顯微鏡
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2016-8-3 0:03:31
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正文:
鍛件疏松、偏析、晶粒分布特征實(shí)驗(yàn)顯微鏡
疏松、偏析、晶粒粗大的分布特征及聲學(xué)反射特性疏松
疏松是鍛件不致密、不純凈的表征。它是由低倍上的黑色(或
褐色)點(diǎn)和小針孔組成，這些點(diǎn)是由于該處含碳和其他雜質(zhì)較高，
經(jīng)腐蝕后形成的，它的縱向延伸較短。解剖驗(yàn)證，4℃r鋼和2℃rMn
Ti鋼低倍試片上一般疏松上的暗點(diǎn)處與無暗點(diǎn)處的基體并無大的區(qū)
別，只是前者珠光體量較多，且該處硬度較高。因此，暗點(diǎn)處的聲
學(xué)反射特性較差，反射波幅度很低，甚至難于出現(xiàn)傷波，低倍試片
上的針孔是由于非金屬夾雜物被腐蝕掉或者收縮疏松未被鍛合而形
成的。對試棒的拉力試驗(yàn)證明，暗點(diǎn)與針孔同時(shí)存在時(shí)，斷裂多發(fā)
生在針孔(或空隙)處。針孔的聲學(xué)反射特性稍好，相對于暗點(diǎn)的反
射波幅度較高。
疏松按照在鍛件橫截面上的分布分為一般疏松和中心疏松兩種
，一般疏松的暗點(diǎn)或空隙均勻地分布在整個(gè)截面上，中心疏松則集
中在中心附近。
在一般鍛件中疏松屬于允許的缺陷，但在某些重要零件的技術(shù)
條件中對它也有級別的要求，如果超過標(biāo)準(zhǔn)所要求的級別，則要判
廢或改作其他用途。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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