標(biāo)題：截取金相試樣斷口實驗分析圖像顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2016-10-12 2:11:57
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正文:
但在實驗室中，還有進(jìn)一步的方法可在斷口學(xué)分析中應(yīng)用，即對斷
口進(jìn)行觀察。以光學(xué)顯微鏡作為工具的斷口學(xué)是一種有用的然而是
有限度的技術(shù)。由于電子顯微鏡具有較大的視場深度和分辨本領(lǐng)，
它在斷口研究中的應(yīng)用(電子斷口學(xué))使工作獲得了重大的進(jìn)展曙1
。關(guān)于電子斷口學(xué)技術(shù)的敘述可參閱附錄。應(yīng)用電子斷口學(xué)能清楚
地顯示一些與各種斷裂機(jī)制相聯(lián)系的專門特征。但是，正如顯微組
織的觀察不能被憑依為損壞分析的唯一方法一樣，電子斷口學(xué)也并
不是用于斷口形貌分析的唯一金相手段。當(dāng)電子斷口學(xué)同宏觀觀察
和光學(xué)顯微鏡觀察兩者聯(lián)合被運(yùn)用時，效果才是最好的。
顯微組織觀察應(yīng)當(dāng)包括對損壞零件的斷口以及斷口以外其它部
位的研究。這樣能提供關(guān)于所介入的斷裂機(jī)制有價值的情報。例如
，可遍及整個零件在適當(dāng)部位上截取金相試樣并加以觀察。觀察包
含著主斷口的截面，可對此斷口上的觀察結(jié)果增添深度值，而觀察
了若干個這樣的截面之后，則對分析增添了第三維資料。對遠(yuǎn)離主
斷口處進(jìn)行細(xì)致的觀察，其一個有利點是：根據(jù)處于成長初期的一
些較小裂縫，可對機(jī)制獲得較清晰的認(rèn)識(因為主斷口處的細(xì)節(jié)極
多，以致有時難以鑒別該處斷裂事態(tài)的發(fā)展序列)。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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