標(biāo)題：光譜光電折射儀的應(yīng)用-儀器的用途及檢測(cè)精度
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2016-10-20 10:34:10
將本頁(yè)加入收藏
下一篇：冶金效率和磨礦成本是選礦工藝-選礦顯微鏡
上一篇：激光復(fù)合板和變斷面板進(jìn)行比較-金屬斷面顯微鏡
點(diǎn)擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報(bào)價(jià)--丨--
---
---
---
正文:
光譜光電折射儀的應(yīng)用-儀器的用途及檢測(cè)精度
寬光譜光電折射儀
寬光譜光電折射儀主要用于透明光學(xué)材料紫外一紅外折射率的精密
測(cè)量，同時(shí)也可用于光學(xué)元件角度測(cè)量。與傳統(tǒng)測(cè)量?jī)x器相比，該儀器
具有測(cè)量精度高、適用波長(zhǎng)范圍寬、由微機(jī)控制自動(dòng)測(cè)量等特點(diǎn)�；�
最小偏向角原理，通過(guò)微機(jī)和相敏檢波技術(shù)相結(jié)合，實(shí)現(xiàn)了自準(zhǔn)直角的
自動(dòng)尋的和測(cè)量過(guò)程自動(dòng)化。
為了實(shí)現(xiàn)0．2-15微米波段內(nèi)的折射率的測(cè)量，儀器配備多種光源
和接收器，其測(cè)量精度達(dá)到第五位小數(shù)。該儀器不但可用于一般光學(xué)晶
體和玻璃折射率測(cè)量，對(duì)于高折射率的絕對(duì)測(cè)量和新材料開發(fā)也十分有
用。該儀器可用作紫外和紅外光學(xué)折射率計(jì)量基準(zhǔn)。高精度雙折射晶體
定軸測(cè)厚儀
儀器的用途及檢測(cè)精度：
1、測(cè)定雙折射品片的光程差，精度優(yōu)于1／1000波長(zhǎng)。
2、測(cè)定雙折射晶體的晶軸及偏振片的偏振軸方位，誤差小于l’。
3、測(cè)定晶體的雙折射率，精度5×1／100000。本儀器是物理光學(xué)
加工和實(shí)驗(yàn)室中的有用的設(shè)備。
遠(yuǎn)紫外及真空紫外反射率測(cè)量?jī)x
該儀器對(duì)于紫外激光研制紫外薄膜技術(shù)有推動(dòng)作用。系統(tǒng)采用成象
式折疊腔、鎖相放大術(shù)和雙光路補(bǔ)償系統(tǒng)�？蓽y(cè)量不同入射角的絕對(duì)反
射率值。波段范圍1100-3000埃，儀器的誰(shuí)確度±0．005和精密度±0．
并具有測(cè)量透射率的功能。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/9017.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商