標(biāo)題：高分辨電鏡應(yīng)用-試樣的厚度不可能精確測(cè)量
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2016-11-4 22:56:18
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正文:
高分辨電鏡應(yīng)用-試樣的厚度不可能精確測(cè)量
物鏡欠焦斑的值和試樣的厚度是兩個(gè)可調(diào)節(jié)使之與圖像的主要特征
相適應(yīng)的重要參數(shù)，欠焦斑的值可通過拍照TEM照片時(shí)試樣的物鏡電流
的大小來估計(jì)，而試樣的厚度不可能精確測(cè)量。要患得到質(zhì)量高、襯度
好的照片，試樣的厚度通常要小于10一20nm。各種各樣的軟件包可用來
圖像模擬，且上述所有量在計(jì)算中都可方便地引入。非完整晶體和界面
的圖像計(jì)算
高分辨電鏡最重要的應(yīng)用之一是確定缺陷部位和晶界區(qū)域附近的原
子結(jié)構(gòu)。這是透射電鏡獨(dú)特的性質(zhì)，無論是用X射線還是用中子衍射都
無法做到。如前所述，由于亮斑或暗斑能否表征原子排列的投影取決于
試樣的厚度和透鏡的欠焦，襯度的反轉(zhuǎn)說明了在這種情況下確定缺陷附
近的原子位置的復(fù)雜性。通過構(gòu)造一個(gè)只包含一個(gè)缺陷的超晶胞宋完成
圖像的模擬，這個(gè)超晶胞應(yīng)大得可隔絕由兩個(gè)相鄰缺陷產(chǎn)生的散射波間
的相互作用，同時(shí)為了減少計(jì)算時(shí)間，晶胞也不能太大。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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