標(biāo)題：衍射分析材料顯微結(jié)構(gòu)對(duì)微觀和宏觀尺度檢測(cè)儀器
信息分類(lèi):站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2017-1-1 5:07:08
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正文:
衍射分析材料顯微結(jié)構(gòu)對(duì)微觀和宏觀尺度檢測(cè)儀器
由于衍射分析本身對(duì)原子排布(變化)以及不同元素原子散射能力非
常敏感，所以它是用于分析材料顯微結(jié)構(gòu)最有效的技術(shù)。
衍射花樣的每一個(gè)譜線(xiàn)都代表衍射材料的一個(gè)統(tǒng)計(jì)平均值。在
常規(guī)x一射線(xiàn)衍射分析中，衍射的體積一般為lmm3量級(jí)。這同時(shí)表
明了衍射分析的優(yōu)勢(shì)及其局限性，即對(duì)微觀和宏觀尺度性能影響很
大的結(jié)構(gòu)／顯微結(jié)構(gòu)參數(shù)(如位錯(cuò)密度、內(nèi)應(yīng)力)平均值可以通過(guò)衍
射分析得到，但是單一的獨(dú)立的缺陷附近原子具體的排布情況則無(wú)
法獲得。這里可參考第6．2節(jié)中關(guān)于成像的討論，即衍射花樣都被
視為位于距離衍射物體無(wú)窮遠(yuǎn)處。如果透鏡對(duì)x．射線(xiàn)也具有足夠
的折射能力，則在透鏡的(背)焦平面上可觀察到同樣的衍射圖樣。
在衍射實(shí)驗(yàn)中，反射線(xiàn)和入射線(xiàn)沿衍射晶格平面對(duì)稱(chēng)。因此，
由衍射峰的位置可以得到它所代表的垂直于衍射平面的晶格間距；
相似地，衍射譜線(xiàn)形狀包含的信息(結(jié)構(gòu)寬化)代表了該方向的(顯
微)結(jié)構(gòu)。
(殘余)宏觀應(yīng)力的測(cè)定
塊體材料的表面區(qū)域和薄膜材料通常存在宏觀殘余日內(nèi)應(yīng)力。
一般來(lái)說(shuō)，一種應(yīng)力狀態(tài)可能來(lái)自?xún)?nèi)部(如上文所述)也可能來(lái)自外
部(來(lái)自外加載荷)。由于應(yīng)力對(duì)材料的性能尤其是力學(xué)性能可能有
利也可能有害，因而對(duì)材料／工件承受的應(yīng)力狀態(tài)進(jìn)行分析極為重
要。例如，在材料疲勞測(cè)試中，長(zhǎng)時(shí)間周期性的壓縮／拉伸荷載作
用下，平行于試樣表面的殘余拉應(yīng)力會(huì)加速裂紋的擴(kuò)展，而表面殘
余壓應(yīng)力的存在則可抑制裂紋的擴(kuò)展。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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