標(biāo)題：透射電子顯微鏡用于觀察極薄標(biāo)本切片細(xì)菌或結(jié)構(gòu)
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2017-1-10 17:21:36
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正文:
透射電子顯微鏡用于觀察極薄標(biāo)本切片細(xì)菌或結(jié)構(gòu)
電子顯微鏡(Electron microscopy，EM)
·EM使用電子束代替光束，使用電磁鐵代替光學(xué)透鏡來聚
焦。EM昂貴并操作困難，但能提供500，000×的放大倍
數(shù)和小至1nm的分辨力。病毒只能借助EM進(jìn)行觀察。
·先進(jìn)的EM能夠看見真正的分子和單個(gè)原子。
透射電子顯微鏡(Transmission electron microscopy)
·透射電子顯微鏡用于觀察極薄的標(biāo)本切片，它可以顯示細(xì)
菌或其他細(xì)胞的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。
掃描電子顯微鏡(Scanning tunneling microscopy)
·掃描電子顯微鏡觀察的標(biāo)本需要用重金屬噴射形成覆蓋層，
用電子束掃描該覆蓋層，形成三維視圖。
掃描隧道顯微鏡(Scanning tunneling microscopy)
·掃描隧道顯微鏡能夠制作單個(gè)分子和原子的三維視圖和視
頻。原子力顯微鏡能夠顯示細(xì)胞表面的分子變化。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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