標(biāo)題：檢測(cè)磨損顆粒直徑分析圖像顯微鏡廠家
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2017-5-20 3:05:27
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正文:
檢測(cè)磨損顆粒直徑分析圖像顯微鏡廠家
在實(shí)際技術(shù)操作中，殘留在組織中的異物可以通過化學(xué)分析的各種方法檢測(cè)
出來(lái)。這些技術(shù)雖然會(huì)對(duì)組織造成破壞，但是應(yīng)用十分方便，例如可以定量的檢
測(cè)出組織中殘留磨損顆粒量。但是，沒有方法能夠檢測(cè)出這些顆粒分布在組織的
哪里以及如何分布，如，只能檢測(cè)出磨損物質(zhì)的量，卻不能檢測(cè)出磨損顆粒的分
布情況。分布情況的檢測(cè)只能通過對(duì)假體周圍組織的形態(tài)學(xué)和物理學(xué)實(shí)驗(yàn)分析得
到。對(duì)組織的形態(tài)學(xué)檢測(cè)是最適宜、應(yīng)用最廣泛、同時(shí)也是最普通的檢測(cè)方法，
它能夠同步測(cè)定：
(1)組織反應(yīng)的性質(zhì)以及程度。
(2)組織中的磨損物質(zhì)的性質(zhì)分布以及數(shù)量。
(3)異物與組織的反應(yīng)情況。
在關(guān)于組織存儲(chǔ)假體物質(zhì)的一個(gè)組織學(xué)測(cè)驗(yàn)表明，這種測(cè)驗(yàn)可以說明微粒的
種類以及其來(lái)源，是在研究血管周圍的微粒時(shí)發(fā)現(xiàn)的。
磨損產(chǎn)物觀察方法
在選擇研究方法時(shí)需要滿足以下幾個(gè)條件：簡(jiǎn)單、可靠以及對(duì)不同組織環(huán)境
的適用性。
光學(xué)顯微鏡被廣泛的推薦使用。在測(cè)量極細(xì)小的微粒時(shí)，則利用電子顯微
鏡、X射線衍射以及其他測(cè)試方法。以下對(duì)這些測(cè)試方法分別進(jìn)行介紹：
對(duì)于密度較大的微粒，比如說金屬顆粒，透過十字偏光片的光作用是不同
的。這是因?yàn)�，在這種物質(zhì)的邊緣，同周圍環(huán)境相比，其折射率變化較大，在表
面會(huì)產(chǎn)生一個(gè)很大分散角。由于光的干擾作用，會(huì)出現(xiàn)傾斜角以及淡黃到深紫
紅的色彩變化。在物質(zhì)邊緣的分散光是非線性偏光，因此沒有消散，另一
方面，射向周圍環(huán)境的光不產(chǎn)生變化而消失，因此在物質(zhì)的邊緣可以看到這種
分散光。在大顆粒的邊緣出現(xiàn)微黃或紫紅色的光線，而小顆粒則表現(xiàn)出表面光
效應(yīng)。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/9825.html
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