標題：制造的器件中故障的測試檢測工業(yè)顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2017-6-24 2:08:12
將本頁加入收藏
下一篇：工藝制造高質量部件焊接熔深分析顯微鏡
上一篇：金屬氧化物細小特征分析金相圖像顯微鏡
點擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報價--丨--
---
---
---
正文:
制造的器件中故障的測試檢測工業(yè)顯微鏡
通常來說，對于組合電路以及全掃描電路，為檢測固定型故障
的測試都是單向量測試。為單固定型故障的測試的生成方法已經(jīng)被
研究超過五十年并且廣泛應用于產(chǎn)業(yè)中并成為測試套件的一部分。
隨著設計的特征尺寸的減小，應用針對新增故障模型的測試變得尤
為重要。
不是所有這類制造的器件中的缺陷都能被知曉，它們可能數(shù)量
眾多而不能通過生成測試來確切進行鎖定。例如，如果假設電路中
的每一對節(jié)點都能夠形成一個橋接缺陷，那么能夠產(chǎn)生的橋接缺陷
的總數(shù)量將會是非常龐大的。即使將與實際接近的條件賦予遭受橋
接缺陷的節(jié)點對上，橋接型缺陷的數(shù)量也會很大。
一些缺陷會引起信號傳播延遲的增加，例如電阻性開路、弱晶
體管以及低阻橋。工藝參數(shù)的變化也會引起信號傳播延遲高于標稱
值。增加信號傳播延遲的事件被建模稱為延遲故障。已經(jīng)提出了幾
個延遲故障模型。在本章以及后續(xù)章節(jié)中，延遲故障會被廣泛討論
。增加的信號傳播延遲可能發(fā)生在一個邏輯門上或數(shù)個邏輯門上。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/9959.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應商
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應商