金相顯微鏡可分為正置金相顯微鏡與倒置金相顯微鏡二種:

1. 正置主要用于辨別和分析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織和表面品質(zhì)，為金屬物理學(xué)研究金相的重要儀器，凡鑄造、冶煉、熱處理的質(zhì)量研究、原材料之檢驗(yàn)或處理前后的分析均可使用本儀器。

2. Inverted Metallurgical Microscope(倒置金像顯微鏡)
倒置顯微鏡由于物鏡在工作平臺(tái)下方，光源照明采用同軸光對于較大之物體之檢查，分析等，則此型顯微鏡較為適用。


電子顯微鏡的種類：
掃描穿隧電子顯微鏡 (Scanning Tunneling Microscope)

高分辨穿透式電子顯微鏡 (High Resolution Transmission Electron Microscope，HRTEM )

場發(fā)射鎗穿透式電子顯微鏡 (Field Emission Gun Transmission Electron Microscope，F(xiàn)EG-TEM)。

電子顯微鏡之應(yīng)用與成果

     病材之負(fù)染色法因操作簡單，解析力強(qiáng)，目前一般病材均可利用此法鏡檢，直接依其型態(tài)檢出病原達(dá)到確診之目的。其操作方法是將樣品以低速及高速遠(yuǎn)心純化，利用等量之蒸餾水與2％磷鎢酸鉀溷合滴于輕Collodion被覆，炭膜蒸鍍之400mesh銅網(wǎng)片上，以濾紙吸乾即可鏡檢，負(fù)染色法為目前本所電顯最重要使用項(xiàng)目之率較大的介質(zhì)

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