掃描電子顯微鏡顯微結(jié)構(gòu)圖片，什么事掃描電鏡？

掃描式電子顯微鏡（Scanning Electron Microscopy；SEM）
比光學(xué)顯微鏡更能清楚顯示材料的顯微結(jié)構(gòu)圖片，
藉由電子束的發(fā)射及偵測(cè)試片產(chǎn)生訊號(hào)成像原理的電子顯微鏡，能針對(duì)需高倍率放
大的試片型態(tài)進(jìn)行觀察，
并且由其所配備能量散佈光譜分析儀（Energy Dispersive Spectrometry；EDS）
做試片的成分分析。SEM
具有景深長(zhǎng)、試片製備容易和影像解析度高等優(yōu)點(diǎn)，
主要用途在細(xì)微
表面型態(tài)與缺陷觀察，可以清晰觀察起伏程度較大之物體，對(duì)表面結(jié)
構(gòu)分析尤其有其效果，放大倍率可以達(dá)到 1000 倍以上。

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