標(biāo)題：常用微米量級的碳化硅或氧化鋁陶瓷微粒測量
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2017-7-25 19:19:04
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正文:
常用微米量級的碳化硅或氧化鋁陶瓷微粒測量
微粒MMC
作為結(jié)構(gòu)材料，它們廣泛地應(yīng)用于航空航天領(lǐng)域。在這些材料中，
通常用微米量級的碳化硅或氧化鋁陶瓷微粒，來增強(qiáng)鋁或鈦合金的基體
。由于其增強(qiáng)體不像纖維增強(qiáng)的MMC那樣具有方向性，其性能基本是各
向同性的。鋁碳化硅微粒MMC(AI／SiC。，此處下標(biāo)P指微粒)的比剛度
，在微粒體積含量為20％時比常規(guī)鋁合金超出50％。作為比較，在相似
纖維體積含量時，包含碳化硅纖維的MMC將使比剛度增加約100％。
其主要制造技術(shù)是快速液態(tài)金屬工藝，如擠壓鑄造或以熱加壓為基
礎(chǔ)的固態(tài)粉末過程。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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