標(biāo)題：燒結(jié)晶粒與樹(shù)膠的折射率分析顯微鏡
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2019-11-1 9:21:00
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正文:
燒結(jié)晶粒與樹(shù)膠的折射率分析顯微鏡
另一種分類是根據(jù)晶界兩邊原子排列的邊貫性來(lái)劃分的。當(dāng)界面
兩側(cè)酌晶體具有非常相似的結(jié)構(gòu)和類似取向，越過(guò)界面的原子應(yīng)是連
續(xù)的，；這樣的界面稱為共格晶界。晶格參數(shù)相同或差異不大時(shí)，才
會(huì)出現(xiàn)共格界面。晶格參數(shù)不同時(shí)，通過(guò)位錯(cuò)可形成半共格晶界：晶
格參數(shù)相差太大時(shí)，不可能是共格晶界，而與相鄰晶體伺有畸變的原
子排列，這樣的晶界稱為非共格晶界，通過(guò)燒結(jié)得到的多晶體，絕大
多數(shù)為這類晶界。即使在單相體系中，雖然物質(zhì)的犀格參數(shù)相同，由
于小晶粒的位向不同，也不會(huì)出現(xiàn)共格。顯然，；共格界面能比司巨
共格界面能低。在界面上的組成單元比晶粒內(nèi)部的能量高，但比表面
上的低。
晶界和相界是雜質(zhì)優(yōu)先聚集的地方，結(jié)構(gòu)單元堆積比晶體內(nèi)部疏
松，看起來(lái)如同無(wú)定形玻璃，它與晶粒內(nèi)部的性能有明顯的差別。晶
界上的雜質(zhì)濃度隨溫度升高而增加。
從晶界的拓?fù)鋵W(xué)來(lái)說(shuō)，在一個(gè)點(diǎn)上決不會(huì)出現(xiàn)四個(gè)或更多的晶界
，這是因?yàn)檫@種狀態(tài)是不穩(wěn)定的。一般來(lái)說(shuō)，三個(gè)晶界構(gòu)成120°的角
。只有六角形晶體的直線晶界是介穩(wěn)的，彎曲晶界(截面角少于六個(gè)時(shí)
向外彎曲，多于六個(gè)時(shí)向內(nèi)彎曲)是不穩(wěn)定的。
多色性強(qiáng)弱還與切片方位及薄片厚度有關(guān)：同種晶體不同方向切
片的多色性強(qiáng)度不同。平行二軸晶光軸面及一軸晶光軸切片上多色性
最顯著，垂直光軸切片不顯多色性。薄片愈厚顯示的多色性及吸收性
愈顯著，在超薄片中不明顯，甚至看不到。
與晶體對(duì)光線折射引起的有關(guān)性質(zhì)
薄片中晶粒與周圍介質(zhì)(包括其他晶體、玻璃體及粘結(jié)劑樹(shù)膠等)
之間的折射率不等，光線透過(guò)二者界面時(shí)將發(fā)生折射。由于薄片中所
有晶粒均可與折射率為1．540的加拿大樹(shù)膠接觸，在后者與晶粒的相
界面因光線折射將產(chǎn)生邊緣、糙面、突起及貝克線等光學(xué)現(xiàn)象，從而
可比較晶體折射率的相對(duì)高低。
(1)輪廓線 晶粒與樹(shù)膠的折射率不等，光線射到二者介面時(shí)，因
折射使交界處光線偏折而減少，在周圍出現(xiàn)一條暗線，稱為輪廓線，
又稱邊緣。輪廓線的粗細(xì)及明暗程度決定于晶體與樹(shù)膠的相對(duì)折射率
，二者折射率相差愈大輪廓線就愈粗愈暗，反之就不明顯，甚至只有
采取縮小光圈才能看到輪廓線的痕跡。
(2)貝克線 與邊緣產(chǎn)生的同時(shí)還有一條因折射光線集中而出現(xiàn)的
亮線，稱為貝克線，亦如圖2—18所示。薄片中輪廓線和貝克線是相伴
平行而生的，無(wú)論接觸關(guān)系如何，輪廓線總是出現(xiàn)在二者交界線處，
而貝克線總是在折射率較高的介質(zhì)一邊，而且升降鏡筒改變物鏡的焦
點(diǎn)平面時(shí)，輪廓線不動(dòng)而貝克線則作平行輪廓線的左右移動(dòng)。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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