標(biāo)題：晶體不同方向的折射率不等分析顯微鏡
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2019-11-1 9:21:20
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正文:
晶體不同方向的折射率不等分析顯微鏡
突起的等級
薄片中相鄰兩介質(zhì)折射率不等將產(chǎn)生輪廓線、貝克線、糙面和突
起等光學(xué)現(xiàn)象，明顯程度均決定于兩相鄰介質(zhì)的相對折射率差。為了
便于計(jì)述晶體的折射率范圍，統(tǒng)一選用折射率1．540的樹膠為標(biāo)準(zhǔn)，
將突起劃分為不同等級：
折射率大于1‘540的為正突起，小于1．540者為負(fù)突起。這是根
據(jù)升降鏡筒時(shí)貝克線移動(dòng)規(guī)律來區(qū)分的：提升鏡筒時(shí)，貝克線向折射
率大的介質(zhì)方向移動(dòng)；下降鏡筒時(shí)，貝克線則移向折射率小的介質(zhì)一
邊。若接觸兩介質(zhì)是樹膠和晶粒，提升鏡筒時(shí)貝克線移向晶粒，說明
晶體折射率大于1．540，晶粒為正突起；當(dāng)提升鏡筒時(shí)貝克線向樹膠
移動(dòng)，則表明晶體折射率小于1．540，晶粒則為負(fù)突起。再根據(jù)晶粒
的糙面和輪廓線的明顯程度將突起分為若干等級
由于非均質(zhì)晶體不同方向的折射率不等，少數(shù)具有較大雙折射率
的非均質(zhì)晶體，轉(zhuǎn)動(dòng)物臺(tái)時(shí)突起等級將明顯不同，這稱為閃突起，如
碳酸鹽類晶體在某些方向?qū)⒊书W突起。
根據(jù)薄片中晶粒的突起等級可以粗略估計(jì)折射率的大致范圍。由
于折射率是晶體最基本的光學(xué)常數(shù)，鑒定時(shí)可根據(jù)突起等級粗略估測
因此這些孔的形狀、分布、尺寸及含量均對材料性能帶來直接影響
。為此人們通過孔特征和孔結(jié)構(gòu)理論來反映這些帶孔無機(jī)非金屬材料
的結(jié)構(gòu)�？捉Y(jié)構(gòu)包括孔隙率、孔徑分布、和孔的幾何形貌。物體中孔
的體積占總體百分?jǐn)?shù)稱為氣孔率或孔隙率，用來表示物體多孔性或致
密程度。根據(jù)孔(或孔隙)在物體表面是否露頭，將孔分為開口孔(包括
貫穿孔)和閉口孔，兩者之和稱為真氣孔率或總孔隙率。貫穿孔對無機(jī)
非金屬材料的透氣性和滲透影響很大，而非貫穿孔的開口孔對毛細(xì)現(xiàn)
象和吸水有明顯作用。
根據(jù)無機(jī)非金屬材料實(shí)際應(yīng)用用途制做各種物品的孔隙率變化極
大。如需要力學(xué)性能的致密陶瓷孔隙率小于1％，而特種保溫材料的孔
隙率大于90％。相同材料條件下，有孔的性質(zhì)與無孔相比較差別巨大
。即使孔隙率很低，仍對材料性能有顯著影響。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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