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標(biāo)題:SPM的特色試片的處理并不像其它電子顯微鏡復(fù)雜

信息分類:站內(nèi)新聞   作者:yiyi發(fā)布   時(shí)間:2012-5-9 1:19:41 將本頁加入收藏

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SPM的特色試片的處理并不像其它電子顯微鏡復(fù)雜

SPM具有尺度極小的空間解析度,尤其是在縱向方面,也就是能夠分辨奈米級(jí)范圍的高度差,可把表面的粗糙度描繪出來,另外試片的處理并不像其它電子顯微鏡那般複雜與講究,它可以在真空、空氣甚至是溶液里操作。同時(shí)設(shè)計(jì)上比較彈性,端看量測(cè)的物理特性為何,另外也可以把不同的SPM整合在同一機(jī)臺(tái),如AFM與SCM的觀察等等。










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