標題：為什么要使用原子力顯微鏡來觀察光紋現(xiàn)象？
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2012-6-13 1:19:38
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正文:
為什么要使用原子力顯微鏡來觀察光紋現(xiàn)象？
答： AFM是用在奈米制程，主要分析物體表面微小尺寸平坦度的顯微鏡，
AFM原子力顯微鏡將微小的懸臂拖曳或輕敲過物體表面，懸臂末端是探針，當探針直接或間接通過物體表面的凹凸時，電腦將
懸臂偏折的程度轉(zhuǎn)換成影像，解析出所通過的原子。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/3220.html
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