標(biāo)題：在TEM電子顯微鏡下觀察能有明顯的對(duì)比需要染色
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2013-2-16 2:09:48
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正文:
在TEM電子顯微鏡下觀察能有明顯的對(duì)比需要染色
超薄切片
當(dāng)樣品準(zhǔn)備好，即可以鉆石刀進(jìn)行超薄切片，由于需要在 PU 的
軟質(zhì)段 Tg 點(diǎn)以下進(jìn)行切片，故必須要采用低溫設(shè)備，試片溫度設(shè)在-
1250C，鉆石刀溫度亦設(shè)在-1250C，將試片切成厚度約為 40nm，將得
到的薄片置于 300-mesh 的銅網(wǎng)上
染色
為了增強(qiáng)其對(duì)比，以便在 TEM 觀察下能有明顯的對(duì)比，因此需要
進(jìn)行染色步驟。在一密閉燒杯中置入 OsO4(ag) (from a 4% solution)，
將銅網(wǎng)置于其內(nèi)，利用蒸汽染色法將 Os 鍵結(jié)在 HTPB 未飽和碳鍵上(圖
3-2)，可藉此加強(qiáng)軟硬質(zhì)段的對(duì)比，染色時(shí)間為 24 小時(shí)，染色后便
可以穿透式電子顯微鏡(TEM)觀察其形態(tài)分佈
穿透式電子顯微鏡(TEM)觀察
加速電壓為 160keV，分別做 50000X，80000X，100000X，150000X
等不同的倍率觀察 PU 的形態(tài)變化
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/3955.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專(zhuān)業(yè)的供應(yīng)商
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