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標題:掃描式電子顯微鏡(SEM)來觀察金屬試片-金相儀器常識

信息分類:站內新聞   作者:yiyi發(fā)布   時間:2013-3-30 20:34:46 將本頁加入收藏

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正文:

掃描式電子顯微鏡(SEM)來觀察金屬試片

掃描式電子顯微鏡觀察

利用掃描式電子顯微鏡(SEM)來觀察垂直于Mg-Ni界面反應的橫截
面,可看到由左側金屬為Ni與右側金屬為Mg在溫度 480℃

進行 45 小時反應后的橫截面圖,圖中的Mg-Ni界面處可以觀察到介金屬的
生成,為一連續(xù)的層狀結構,且介金屬分別與Mg和Ni的界面都相當?shù)钠秸?/div>
呈現(xiàn)一平面的型態(tài)。我們利用SEM提供的BEI來觀察同一試片,

由于BEI的對比與試片的組成原子有關,原子序較高的原子會因為較多的電
子反射而顯現(xiàn)較亮的顏色,當一區(qū)域內包含不同的組成時,此區(qū)域影像對
比會出現(xiàn)不同的灰階顏色,故可以藉由灰階顏色來做試片組成的初步判
斷,圖中Ni端呈現(xiàn)較亮的顏色,Mg端的顏色則較深,界面處的介金屬呈現(xiàn)
單一的灰階顏色,可以得知介金屬為單一的組成。此一連續(xù)層的介金屬相
進一步由XRD與EPMA分析得知為Mg2Ni相(分析數(shù)據(jù)后面詳述)。

透過SEM的表面觀察及XRD、EPMA的組成分析只觀察到Mg2Ni相,

無法分析出在相圖中同為穩(wěn)定相之介金屬MgNi2的存在,而固態(tài)擴散偶在溫度 400、430 及
450℃進行界面反應,亦可觀察到相同的結果,即界面處只觀察到連續(xù)層的Mg2Ni相











出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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