標題：掃瞄式及偏光顯微鏡可用于觀察二維材料顯微結(jié)構(gòu)
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2013-6-12 15:19:24
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正文:
掃瞄式及偏光顯微鏡可用于觀察二維材料顯微結(jié)構(gòu)
掃瞄式顯微鏡（SEM）及偏光顯微鏡(Polarized Microscopy)觀察二維
PAN/Pitch、PAN/CVI、Pitch/resin/CVI三種碳-碳復(fù)合材料，在經(jīng)不同的磨耗條件
下，其磨耗面前后顯微組織之變化。實驗結(jié)果顯示在SEM和偏光顯微鏡觀察發(fā)現(xiàn)，
不同制程條件下其基材型態(tài)也有所不同，相對的石墨化的程度也有所不同，
而在偏光下則可由顏色的差異作一判斷。
在磨耗面SEM分析方面發(fā)現(xiàn)整個磨耗過程大概可呈現(xiàn)四種類型磨耗面，
在Type1型磨耗面表面微突物大部分被磨平，部分纖維斷裂，小孔隙被磨屑填滿，
大孔隙則有擴大的趨勢，Type2型磨耗面無法清楚分辨基材和纖維，磨耗屑布滿整個
表面，形成粉狀磨屑層，transition發(fā)生，磨擦系數(shù)激增，Type3型磨耗面潤滑層的產(chǎn)
生，產(chǎn)生一平整、光滑平面，磨耗量和磨擦系數(shù)下降并呈現(xiàn)穩(wěn)定狀態(tài)，
第四型磨耗面部分潤滑層剝落，部分生成，并且整個磨耗過程在初期第一、
第二階段之后，在第三、第四階段循環(huán)。
而在磨耗面偏光顯微鏡分析下，PAN/pitch、PAN/CVI、Pitch/resin/CVI三種碳-碳復(fù)合
材料隨著磨耗進行，碳基面排列混亂，顏色分布顯得雜亂無序，部分區(qū)域出現(xiàn)磨耗前
未出現(xiàn)之顏色，整個磨耗過程自Type1型磨耗面出現(xiàn)之后，碳基面排列失去規(guī)則，
呈現(xiàn)紊亂的情形。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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