標(biāo)題：應(yīng)用于晶體光纖橫截面纖維測(cè)定工具顯微鏡的價(jià)格
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2013-11-8 1:56:30
將本頁(yè)加入收藏
下一篇：鐵碳合金顯微分析實(shí)驗(yàn)研究分析金相顯微鏡廠商
上一篇：鋁合金鑄造制程零部件輪廓測(cè)量工具顯微鏡
點(diǎn)擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報(bào)價(jià)--丨--
---
---
---
正文:
晶體光纖橫截面纖維測(cè)定工具顯微鏡價(jià)格
光子晶體光纖是將中空毛細(xì)管條狀物質(zhì)成束狀排列，然后放置于背景物質(zhì)中，經(jīng)過(guò)加熱拉伸
后，橫切面結(jié)構(gòu)呈周期性孔洞排列的一種光纖，便可利用孔洞纖殼（holey cladding）較低的等
效折射率，在實(shí)體的光纖核心形成波導(dǎo)。其中心條狀物質(zhì)亦可經(jīng)由特殊制程而為中空狀，便可利
用其特殊周期孔洞結(jié)構(gòu)具有光子能隙（photonic bandgap）的特性，在能隙頻率范圍內(nèi)的電磁波
因無(wú)法透過(guò)孔洞結(jié)構(gòu)而被限制在中空的光纖核心中傳播。
以往想觀察光纖截面多半使用掃描式電子顯微鏡�；驹頌槔秒娮邮蛟谖覀兿胗^察的
材料上，然后使用光電倍增管接收電子束與靶材交互作用后產(chǎn)生的二次電子，經(jīng)過(guò)分析后重建影
像。其優(yōu)點(diǎn)為分辨率高，適合觀察物質(zhì)表面的精細(xì)結(jié)構(gòu)。但由于光纖組成材料為 SiO2，本身并
不導(dǎo)電，所以需要在光纖表面鍍上一層導(dǎo)電膜，才能使用 SEM 觀察，等于是對(duì)光纖做破壞性檢
測(cè)。而我們將若光耦合進(jìn)光纖，然后觀察光輸出圖案，并不需要破壞光纖
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/4878.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商