標(biāo)題：透射電鏡觀察研究樣品顯微顆粒結(jié)構(gòu)特征
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2013-12-5 22:47:42
將本頁加入收藏
下一篇：電子顯微鏡觀察礦石和巖石樣品的微觀特征
上一篇：礦物物相種類、大小、形態(tài)分析圖像顯微鏡
點擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報價--丨--
---
---
---
正文:
透射電鏡觀察研究樣品顯微結(jié)構(gòu)特征
根據(jù)樣品觀察的不同要求，可以選用透射電子顯微鏡或掃描
電子顯微鏡和電子探針等。
如果用透射電鏡觀察研究粉末樣品時，從顯微結(jié)構(gòu)特征
上可以清楚找到單顆粒品體和團聚體的形貌和尺寸.對于復(fù)型法來講，
則必須注意控制樣品拋光面上的腐蝕深度.腐蝕過淺或過深，
對觀察都將產(chǎn)生不利的影響，使有些顯微結(jié)構(gòu)上的細(xì)節(jié)顯露不清，
甚至可能被蝕去或在觀察時被忽略掉
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/4982.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商