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正文:
晶體光學(xué)基礎(chǔ)知識(shí)-光學(xué)顯微學(xué)實(shí)踐教學(xué)
顯微鏡
如果在電子探針或掃描電鏡下分析,可立刻得出該相的化學(xué)組成。
人們花費(fèi)大量的時(shí)間和精力去測(cè)定折射率、干涉圖、消光角、雙晶律……
旨在求得晶體的光性常數(shù),以借其查表對(duì)照相應(yīng)相的名稱。
如果是鑒定表上沒有記錄的新相,則需要更加仔細(xì)地復(fù)驗(yàn)并附以其他檢驗(yàn)結(jié)果的佐證
(這便是新的發(fā)現(xiàn))。這樣繁重的任務(wù),借用掃描電鏡和探針,很容易就可完成。
對(duì)于材料顯微結(jié)構(gòu)研究者來說,需要包括地質(zhì)學(xué)、巖石學(xué)、礦物學(xué)和地球化學(xué)在內(nèi)的基礎(chǔ)知識(shí),
特別是在研究礦物原料時(shí),這些知識(shí)是不可缺的。應(yīng)該特別指出的是,
如果沒有晶體光學(xué)基礎(chǔ)知識(shí)和光學(xué)顯微學(xué)實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),就不可能對(duì)電子顯微圖像做出準(zhǔn)確的判讀。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科
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