標(biāo)題：金相試樣的截取截面分析用專業(yè)圖像顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2014-5-30 17:16:38
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正文:
金相試樣的截取部位必須具有一定的代表性，首先應(yīng)考慮觀察表面和取向問(wèn)
題。一般來(lái)說(shuō)，金屬和合金都存在不同程度的各向異性，縱橫方向常出現(xiàn)組織形
態(tài)的差異。對(duì)一個(gè)零件來(lái)說(shuō)，截取橫截面作金相分析時(shí)，主要觀察其表面和中心
組織的差別、表層缺陷和表面處理工藝結(jié)果等;截取縱截面則主要對(duì)非金屬夾雜
物、晶粒的變形程度和帶狀組織等進(jìn)行分析。對(duì)一些零件作熱處理質(zhì)量檢驗(yàn)時(shí)，
必須考慮零件的不同部位和熱處理工藝之間的關(guān)系。
截取金相試樣的方法很多，方法和種類的選用
則視零件的大小、性質(zhì)、材質(zhì)和熱處理工藝等具體條件而定，但截取時(shí)必須保證
試樣觀察面的組織不受到影響。例如:切割試樣的表面常常會(huì)形成變形層，這種
變形層必須在后續(xù)的制備工序中將它去掉，或減小到不影響分析結(jié)果的程度。
把光的干涉原理和顯微鏡分析結(jié)合起來(lái)而設(shè)計(jì)成的顯微鏡稱為干涉顯微鏡。
干涉顯微分析能顯示試樣表面的微小高度變化，故主要用于觀察表面的微觀幾何
外形，特別適用于塑性變形后金屬表面變形區(qū)的分析。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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