標(biāo)題：微觀組織結(jié)構(gòu)與原鑄態(tài)基體樣品差別分析圖像顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2014-7-28 0:16:58
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正文:
對定向凝固葉片和單晶葉片材料再結(jié)晶行為的研究表明，再
結(jié)晶層的微觀組織結(jié)構(gòu)與原鑄態(tài)基體存在明顯的差別，這些差異
無疑會引起再結(jié)晶區(qū)域?qū)щ娦阅艿淖兓?/div>
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
由于再結(jié)晶層的范圍有時較小(有時僅在毫米量級)、深度較
淺(通常在十至百微米量級)，采用常規(guī)的渦流檢測儀器和技術(shù)幾
乎難以測量出葉片上的再結(jié)晶的存在和嚴(yán)重程度，這一困難主要
源于常規(guī)檢測線圈的直徑要比再結(jié)晶區(qū)域大，測量能力達(dá)不到分
辨出再結(jié)晶區(qū)與原鑄態(tài)基體的電性能差異的水平。針對葉片再結(jié)
晶形貌與結(jié)構(gòu)的特點(diǎn)，探索采用渦流方法實(shí)施有效的測量，應(yīng)在以
下三個方面開展深人的研究:①再結(jié)晶區(qū)域?qū)щ娦宰兓潭葴y量;
②消除葉片型面變化所產(chǎn)生的影響;③提高渦流檢測的分辨率。
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