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標(biāo)題:多功能光學(xué)分析儀器帶不透明照明器的顯微鏡

信息分類:站內(nèi)新聞   作者:yiyi發(fā)布   時(shí)間:2014-8-20 6:41:06 將本頁加入收藏

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正文:

多功能光學(xué)分析儀器帶不透明照明器的顯微鏡

  拍攝下來的錐光偏振圖象,它說明正常的各向同性立方結(jié)構(gòu)硅
片由于應(yīng)變轉(zhuǎn)變?yōu)閱屋S特性.

如果用反射偏振光,即用帶不透明照明器的顯微鏡,則對所有非
立方晶體都可觀察到各向異性的反射系數(shù),

它有助于區(qū)分各種不同的材料組成相.用反射光作各向
同性材料的錐光偏振觀察將會(huì)得到交叉形組態(tài),類似于在透射下
觀察單軸材料時(shí)得到的一樣.上述偏振光顯微鏡除了為尋找應(yīng)
變區(qū)域之外,很少使用于半導(dǎo)體的研究工作中.

干涉顯微鏡檢查法

可用干涉儀與各種透鏡系統(tǒng)相配合進(jìn)行顯微干涉檢查.

它在獲得研究小范圍表面臺階所需要的襯度方面是很有用的.
在一些類型中,用它能觀察到與干涉儀相聯(lián)系的、











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