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標題:表面粗糙度對薄膜電路-混合集成電路檢測顯微鏡

信息分類:站內(nèi)新聞   作者:yiyi發(fā)布   時間:2015-4-2 12:16:02 將本頁加入收藏

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正文:

表面粗糙度對薄膜電路-混合集成電路檢測顯微鏡

混合集成電路對基片的要求

  1.基片平整度、粗糙度向
  目前的薄膜集成電路,大部分直接做在基片上,為了保證能得到很好
的工藝重復(fù)性,和便于自動化生產(chǎn),基片表面一定要非常平整,同時表
面粗糙度對薄膜電路(特別是薄膜電容器)的成品率影響非常大。薄膜
電路基片的粗糙度應(yīng)小于1000埃,而厚膜電路基片的粗糙度可略差一些
,例如對膜厚為10-25微米的厚膜,基片的粗糙度應(yīng)小于3微米。
  2.良好的電氣性能
  基片應(yīng)該具有良好的絕緣性能,即要有向的電阻率,隨著混合集成電
路在微波波段應(yīng)用。
  3.高的導(dǎo)熱系數(shù)
  隨著集成度的提高和運用功率的增加,在一些元、器件,特別是大功
率晶體管和電阻器附近,會發(fā)生大量的焦耳熱。如果這些熱量不及時散
發(fā)出去,將使電路過熱而損壞,因此,高的導(dǎo)熱系數(shù)有時成為大功率電
路選擇基片的重要條件。
  4.與其它材料相匹配的熱膨脹系數(shù)
  這種熱膨脹系數(shù)的匹配,可以減少溫度循環(huán)、溫度沖擊、焊接和電路
功耗變化等引起的熱應(yīng)力,在實踐中發(fā)現(xiàn),如果基片與膜狀材料的熱膨
脹系數(shù)相差較大(不匹配),熱應(yīng)力足以把膜從基片上剝離下來,或使
電路不穩(wěn)定,基片的熱膨脹系數(shù)對膜狀電阻器值的一致性和電阻溫度系
數(shù)也有直接關(guān)系。











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