標題：電子顯微鏡特別適于對高溫過程的高分辨率觀察
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2015-4-19 15:56:05
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正文:
電子顯微鏡特別適于對高溫過程的高分辨率觀察
另一方面，微觀結(jié)構(gòu)的襯比可以采用合適的光學(xué)布置而加強，
例如，在偏振光下觀察，利用相差襯比、干涉襯比，或者暗場下觀
察.在最后一種布置下，表面凸凹的輪廓在掠射光下被顯示出來
(比明場的垂直光下清楚).利用干涉顯微鏡可以定量測量表面起
伏，它的豎直分辨率可以達到所用波長的1/20左右(在多光束干
采用電子波可以使用直接反射對微觀結(jié)構(gòu)進行觀察，得到較
高的分辨率.
在反封電子顯微鏡中的一束掠射電子束打到樣品表面上，散射電子
主要在對表面法線對稱的方向上，這樣就可用它們形成放大了的象
分辨率約為幾百埃，但由于觀察面是傾斜的，表面象的畸變是很嚴重的.發(fā)
針型電子顯微鏡能夠避免這種缺點，它利用在垂直樣品表面方向
上直接放出的次級電子形成象.除用熱發(fā)射外，紫外光也是可利
用的一種初級激發(fā)輻射，在熱發(fā)射情況下，這種電子顯微鏡特別適
于對高溫過程的高分辨率觀察.
與前述的各種顯微鏡相反，掃描電子顯徽鏡不用電子光學(xué)放
大，而是用極細聚焦的電子束(直徑>200入)’掃描樣品表面.所
產(chǎn)生的次級電子束被放大，并用于控制電視顯象管上的亮度，次級
電子束的掃描系統(tǒng)是與初級電子束掃描系統(tǒng)同步的
由于光程的非對稱性，亮度，也就是從樣品上一個特定點發(fā)射的次級
由于光程的非對稱性，亮度，也就是從樣品上一個特定點發(fā)射的次級
電子束的強度依賴于那里的表面起伏和材料性質(zhì).
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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