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正文:
學(xué)系統(tǒng).根據(jù)光學(xué)反射的幾何條件來考慮預(yù)期的反射圖形時(shí),必
須記住:由于大多數(shù)蝕坑的側(cè)壁的角度的影響,當(dāng)光束從腐蝕坑內(nèi)
反射出來之前,必然已受到附加的反射,
如果試樣的實(shí)際表面①與結(jié)晶學(xué)平面稍有偏離,則所得的反射圖象將
是不對(duì)稱的.如測(cè)得為使圖形恢復(fù)對(duì)稱所必須的傾斜度,也就是
直接測(cè)定了晶面與實(shí)際試樣表面的偏離度.同時(shí),根據(jù)反射光斑
與試樣的相對(duì)方位,還可同時(shí)唯一地確定平面中的各個(gè)晶向.
光學(xué)反射圖形定向法的成功和精度,取決于所用的設(shè)備,以
及能否獲得邊緣明確清晰和圖形完整的腐蝕坑或解理坑
中列出了一些適用的含水腐蝕劑和熔融金屬腐蝕劑.前者比較容
易使用,但其精確度卻比熔融金屬法差一些.反射坑也可用磨蝕
解理的方法,即用研磨或噴砂的辦法來獲得.但是如果解理面與
腐蝕速度慢的顯露面不同的話,則對(duì)反射圖形的解釋也將與圖
用來固定晶片或晶體并改變它們相對(duì)
于屏幕的方位的機(jī)構(gòu)必須堅(jiān)實(shí)牢固,并能精密地測(cè)量,否則就只能
進(jìn)行非常粗糙的定向.
極性的區(qū)別對(duì)于金剛石結(jié)構(gòu)型的晶體,其面和
面是等同的,但是對(duì)于閃鋅礦結(jié)構(gòu)型的晶體,就不是這樣了,因?yàn)?/div>
沿著堆垛次序的每一個(gè)雙原子層,都是由一層A組分的原子和一
層B組分的原子構(gòu)成的.于是,取決于沿或是方向穿
過晶體,首先遇到的原子層也不同,或是A原子層或是B原子層.
對(duì)于纖維鋅礦結(jié)構(gòu)型的晶體,在和方向之間也存在
類似的差別.所以,在上述任何一種情況中,都可預(yù)期在腐蝕行為
和X射線散射等特征上存在著差別.
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科
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