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正文:
測(cè)量試樣備制的表面應(yīng)磨光到足能正確測(cè)量顯微硬度壓痕
試樣備制
進(jìn)行測(cè)量的表面,應(yīng)磨光到足能正確測(cè)量顯微硬度壓痕,應(yīng)采取
各種措施,防止碰壞試樣的邊角,過熱和表面因堵塞孔隙而發(fā)生的
變化。
兩個(gè)相鄰壓痕之間的距離,不應(yīng)小于壓痕對(duì)角線的2.5倍。
壓痕應(yīng)在垂直于表面,寬為1.5mm的一條帶內(nèi)。
對(duì)于每個(gè)深度,至少打三個(gè)壓痕。
計(jì)算由每個(gè)深度測(cè)得硬度值的算術(shù)平均值,并在硬度對(duì)離表面距
離的座標(biāo)圖上標(biāo)出這些平均值。
畫出通過標(biāo)出點(diǎn)的最合適的曲線。
然后通過對(duì)應(yīng)于規(guī)定硬度值的點(diǎn)作平行線。
由這條平行線與硬度變化曲線相交,于是得出有效表面硬化深度
。
測(cè)量精度取決于每個(gè)深度壓痕的數(shù)量,方法有效表面硬化深度質(zhì)
量控制試驗(yàn)。
這種方法作個(gè)基本假設(shè),即在方法得到的有效表面硬化深度范圍
內(nèi),表面硬化深度對(duì)硬度的函數(shù)曲線,可認(rèn)為是一條直線。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科
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