標(biāo)題：表面質(zhì)量檢驗(yàn)精密儀器-保證精度測(cè)量微小尺寸
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2015-7-14 14:44:15
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正文:
表面質(zhì)量檢驗(yàn)精密儀器-保證精度測(cè)量微小尺寸
微分干涉法的優(yōu)點(diǎn)是：具有某種程度以上光程差的光程差變化可
以用明顯的干涉對(duì)比直接地表現(xiàn)出來。
測(cè)量方法與差分干涉的要領(lǐng)相同，但這種干涉法的靈敏工很低，
適用于光程差特別大的情況。
表面質(zhì)量檢驗(yàn)要求保證粗糙度高精度測(cè)量的統(tǒng)一，而在表面粗糙
度方面的基本測(cè)量方法和測(cè)量工具國(guó)際比對(duì)的結(jié)果指出，在測(cè)量工
具制造企業(yè)的出廠證書上所宜稱的表面粗糙度參數(shù)檢驗(yàn)的計(jì)量指標(biāo)
，往往與實(shí)際的不一致，因此，粗糙度測(cè)量領(lǐng)域的很多計(jì)量統(tǒng)一的
任務(wù)急待解決，同時(shí)，用隨機(jī)場(chǎng)的特征來表示粗糙度的復(fù)雜性和表
面不平度單元的微小尺寸，使這些問題的解決很困難，此外，用于
測(cè)量粗糙度的方法和工具極其復(fù)雜，同時(shí)，還應(yīng)該保證能在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)
行測(cè)量，但是，畢竟取得了一定的成就，并擬定了這方面工作今后
繼續(xù)發(fā)展的主要方向。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/7196.html
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