標(biāo)題：在較粗糙的鍍層表面測(cè)厚，取其平均值作為鍍層的厚度
信息分類(lèi):站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2015-9-7 9:50:13
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正文:
在較粗糙的鍍層表面測(cè)厚，取其平均值作為鍍層的厚度
厚度測(cè)量
經(jīng)凋零和校準(zhǔn)至符合要求后，立即將探頭垂直于規(guī)定試樣測(cè)
量部位，給以適當(dāng)?shù)膲毫Γ藭r(shí)表頭指針?biāo)傅臄?shù)值即該部位的鍍
層厚度。然后在附近位置重復(fù)測(cè)量幾次，其數(shù)值接近時(shí)，取其平均
值作為鍍層的厚度平均值。
測(cè)量注意事項(xiàng)
1．在較粗糙的鍍層表面測(cè)厚時(shí)，應(yīng)在不同部位上進(jìn)行多次測(cè)
量，取其平均值作為鍍層的厚度，或在相同粗糙度的基體上進(jìn)行校
正。
2．鍍層厚度小于5μm時(shí)，應(yīng)進(jìn)行多次測(cè)量，然后用統(tǒng)計(jì)方法
求得鍍層厚度。
3．對(duì)鉛和鉛合金用磁性法測(cè)厚時(shí)，磁性探頭會(huì)被鍍層粘附。
遇此情況時(shí)，可以用薄的油膜涂覆在鍍層表面，然后再作測(cè)量。但
必須進(jìn)行厚度校正。
4．化學(xué)鍍鎳層雖是非磁性鍍層，但經(jīng)過(guò)熱處理后鍍層會(huì)產(chǎn)生
磁性，因此應(yīng)在熱處理前用磁性法測(cè)厚。如必須在熱處理后測(cè)厚，
則應(yīng)采用特殊校正。
本方法的測(cè)量誤差一般在±10％左右，但對(duì)較薄鍍層誤差不
會(huì)小于1．5μm
（1)鍍層表面清潔時(shí)測(cè)試誤差較小，而在鍍層表面存在油污．
氧化皮、銹斑、酸斑、焊接溶劑及其它雜物缺陷等時(shí)，測(cè)厚誤差較
大。
(2)測(cè)厚位置對(duì)讀數(shù)有一定影響，探頭距試樣邊緣越近，誤差·
越大。通常要求探頭與試樣邊緣距離在6 mm以上較宜。若必須
在邊緣測(cè)厚時(shí)，應(yīng)進(jìn)行特別校準(zhǔn)，引入校準(zhǔn)系數(shù)。
(3)測(cè)厚時(shí)探頭的受力和探頭相對(duì)于被測(cè)鍍層的垂直位置，
亦影響測(cè)厚的讀數(shù)，當(dāng)探頭與被測(cè)鍍層垂直情況下，受力越大，落
數(shù)越小。一般受力恒定在150--200g為宜。
為了消除上述因素對(duì)鍍層的影響，測(cè)厚時(shí)必須注意采用厚度、
形狀、光潔度相接近的樣板進(jìn)行校準(zhǔn)，并選擇適當(dāng)?shù)臏y(cè)量部位、正’
確的操作方法。才能提高測(cè)厚的準(zhǔn)確度
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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