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標題:鑄件凝固過程中,通常細小晶粒,晶粒尺寸測量顯微鏡

信息分類:站內新聞   作者:yiyi發(fā)布   時間:2016-6-2 13:47:12 將本頁加入收藏

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正文:

鑄件凝固過程中,通常細小晶粒,晶粒尺寸測量顯微鏡


  鑄件凝固過程中,通常希望獲得細小晶粒。晶粒尺寸較小時,
晶界面積較大,導致晶界上的雜質濃度降低。細晶組織一般具有以
下優(yōu)點:
      1)改善鑄件凝固過程中的抗熱裂性能。
      2)改善焊接或火焰切割冒口時(鑄鋼件)的抗裂性能。
      3)減少超聲波和X射線的散射,得到更好的無損探傷結果
。
      4)改善抗晶間腐蝕性能。
      5)提高屈服強度。
      6)提高塑性和韌性。
      7)改善抗疲勞性能(包括抗熱疲勞性能)。
      8)減少疏松和氣孔尺寸。
      9)改善鋼錠等鑄件的熱加工性能。
      但是,以上優(yōu)點并非適用于所有合金體系。有些合金特別
難以細化晶粒,還有一些合金在晶粒細化之后性能反而惡化。而且
當單獨考慮其中某一點時,效果可能并不明顯,下面將逐步解釋其
原因。
      另外,有時大晶粒鑄件反而具有理想的抗高溫蠕變性能,
包括用于爐體的鐵素體耐熱鋼和鎳基高溫合金鑄件,單晶渦輪葉片
是其中的極端情況,這些應用雖然很重要,但畢竟是特例。由于篇
幅所限,本節(jié)內容不專門討論大晶粒和單晶的情況,而只是研究通
常期望的細晶情況。
      以上提到的優(yōu)點中有一些可以用經典的物理冶金知識解釋
,但也要考慮富集在晶界上的雙層膜。有時這些膜缺陷的影響至關
重要,以至于不能單獨用傳統(tǒng)的物理冶金知識來解釋鑄件的組織和
性能。
      例如,長時間以來,人們認為不可能用超聲波檢測鋁合金
鑄件,因為粗大的鑄態(tài)晶粒將超聲波散射,導致沒有回波而無法檢
測。











出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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