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標題:礦物的形態(tài)層狀構造圖像分析圖像顯微鏡

信息分類:站內新聞   作者:yiyi發(fā)布   時間:2016-9-16 2:03:53 將本頁加入收藏

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正文:

礦物的形態(tài)層狀構造圖像分析圖像顯微鏡

礦物的形態(tài)是礦物內部因素(自身晶體構造等)和外部環(huán)境(成礦條
件與環(huán)境等)綜合影響的結果。因此,它一方面反映出礦物晶體構
造特定的形態(tài),構成了我們鑒定礦物的依據(jù),另一方面,不同條件
下生成的同種礦物在形態(tài)上差異也很大,這成了我們研究成礦機理
,優(yōu)化成礦條件的關鍵所在。

    對于晶體的形態(tài)特征主要取決于它在空間三個相互垂直方向上
發(fā)育的相對程度,大致可以分為三種基本類型:(1)一向延伸型,
即晶體沿一個方向特別發(fā)育,呈柱狀、針狀等。(2)二向延伸型即
晶體沿兩個方向特別發(fā)育,呈板狀、片狀等。(3)三向等長型即晶
體沿三個方向相同發(fā)育,呈等軸狀或粒狀等。除此之外,還有一些
過渡類型等。

    晶體的習性主要決定于晶體內部構造,如層狀構造的晶體多是
二向延展型;鏈狀構造的晶體常是一向延展型;架狀構造的晶體常
是三向等長型。它還受晶體對稱性的制約,如等軸晶系的晶體通常
屬于三向等長型;中級晶族晶體通常是沿c軸或垂直f軸延伸,在少
數(shù)情況下也可能是近于二向等長型;低級晶族晶體中通常是沿某一
結晶軸生長或平行某兩結晶軸生長的一向延伸、二向延伸,以及一
向延伸和二向延伸的過渡類型。
    另外,生長環(huán)境的外在因素對晶體習性的影響也很大。










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