標(biāo)題：光學(xué)顯微鏡三維圖像重構(gòu)原理-不同焦平面測(cè)量
信息分類(lèi):站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2016-11-28 17:15:49
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正文:
顯微鏡在不同焦平面的測(cè)量方法
顯微鏡不同焦平面的標(biāo)定方法
在顯微鏡的條件下，由于觀察表面的對(duì)象比較小，往往很難對(duì)物體
表面進(jìn)行操作，因此不同焦平面的測(cè)量試驗(yàn)方法都采用球磨粒作為試驗(yàn)
對(duì)象。
球磨粒比較容易制作和采集，在顯微鏡條件下也比較容易放置。
如果采用其他形貌的磨粒，則不容易放置在比較理想的位置。為了對(duì)磨
粒的直徑進(jìn)行標(biāo)定，采用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量光柵。首先將光柵放到顯微鏡下，通
過(guò)CCD采集光柵的圖片
光學(xué)顯微鏡三維圖像重構(gòu)原理分析
物體表面高低不平導(dǎo)致了物體表面有些區(qū)域在焦平面內(nèi)，
在焦平面范圍內(nèi)，圖像的亮度變化比較大；在焦平面外的亮度變化
比較小。反映在信號(hào)的層面上，在焦平面的范圍內(nèi)，高頻信號(hào)變化幅值
比較強(qiáng)；在焦平面外，高頻信號(hào)變化幅值比較弱。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專(zhuān)業(yè)的供應(yīng)商
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