標(biāo)題：觀察玉石的精細(xì)結(jié)構(gòu)合適使用體視顯微鏡

信息分類:站內(nèi)新聞　　 作者:yiyi發(fā)布　　 時(shí)間:2013-7-25 22:44:01 將本頁(yè)加入收藏

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正文:

觀察玉石的精細(xì)結(jié)構(gòu)合適使用體視顯微鏡

利用光子與電子的波動(dòng)性，觀測(cè)物質(zhì)的精細(xì)結(jié)構(gòu)促使現(xiàn)今納米物理的發(fā)展。

雖然X射線繞射探測(cè)物質(zhì)具定量且全面性的結(jié)果，但電子更容易聚焦，

利用電子繞射的

實(shí)驗(yàn)方法可以直接觀測(cè)尺度極小的微結(jié)構(gòu)。穿透式電子顯微鏡

(transmission electron microscopy,TEM)

廣泛作為研究納米科技與納米材料的儀器之一，經(jīng)由電子加速并聚

焦至樣品上，電子被樣品內(nèi)的原子散射至各角度，分析散射強(qiáng)度強(qiáng)弱的對(duì)比，

可將樣品影像呈現(xiàn)在感光螢?zāi)?/div>

TEM需在高真空的環(huán)境中運(yùn)作，這是由于電子源經(jīng)由燈絲產(chǎn)生，施加高電壓

以加速電子。高真空環(huán)境可避免電弧的產(chǎn)生，并增加電子的平均自由徑，

減少電子在運(yùn)動(dòng)過(guò)程中撞擊到氣體分子的機(jī)會(huì)。電子透鏡多由電磁線圈與磁極所組成，

選擇適當(dāng)?shù)耐哥R材料（鐵磁性材料）與整體透鏡設(shè)計(jì)，利用電子與磁場(chǎng)間之交互作用使

電子偏折，進(jìn)而聚焦或放大（分辨率可達(dá)1埃，亦即0.1納米，放大倍率可達(dá)百萬(wàn)倍）

許多TEM也配置X射線能量能譜分析儀

出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科

特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/4498.html 　
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